產(chǎn)品介紹

     納米粒度及Zeta電位分析儀是一種分析測試儀器，用于測量和分析物質(zhì)的粒度大小以及電位特性。它具有高靈敏度和高分辨率的特點，能夠?qū){米級顆粒進行準確的粒度分析，并測量物質(zhì)的電位。

     產(chǎn)品特點：

    ·納米粒度及Zeta電位分析儀具有高速、準確的檢測能力

    ·高性能自適應光子相關器，提高檢測的實時性、準確性和重復性

    ·自適應光源強度調(diào)節(jié)，保證測量裝置檢測性能的穩(wěn)定性和重復性

    ·高靈敏度和穩(wěn)定度的光子計數(shù)級光電信號檢測能力，

    ·可靠的光纖耦合裝置，高效地增加DLS和ELS信號的信噪比，提高測量穩(wěn)定性

    ·準確智能的頻譜分析算法，提高ELS的測量精度

    ·高穩(wěn)定性的光路與電路設計：消除雜散光和噪聲信號的影響，結果穩(wěn)定性和重復性高

    應用領域：

    磨料、化學機械拋光液、陶瓷、粘土、涂料、污染監(jiān)測、化妝品、乳劑、食品、液體工作介質(zhì)/油、墨水、乳液、色漆、制藥粉體、顏料、聚合物、蛋白質(zhì)大分、二氧化硅以及自組裝TiO2納米管(TNAs)等

    技術參數(shù)：

    粒徑測量范圍：0.7-10um(動態(tài)光散射法)；

    Zeta電位測試范圍：-500~﹢500mV；

    準確性與重復性：優(yōu)于2%（國家標準樣品D50值）；

    檢測角度：90°、18°；

    樣品池：塑料樣品池、Zeta電位樣品池；

    溫控范圍：10℃-50℃，精度±0.1℃，半導體制冷；

    激光光源：可調(diào)半導體激光器，波長635nm、35mW；

    檢測器：光子計數(shù)級的光電倍增管（PMT）；

    數(shù)字相關器：集成的光子相關器，雙通道。1000通道，最小采樣時間100ns；

    納米粒度儀軟件：納米粒度儀分析軟件是用于測試納米粒徑及粒徑分布的全新軟件，采用動態(tài)光散射技術及電泳光散射技術，可以實時、準確地檢測膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布，以及Zeta電位等參數(shù)；

    計算機接口：USB3.0及以上。